N-亚硝基去甲基西酞普兰； C19H18FN3O2

N-亚硝基去甲基西酞普兰

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• 产品信息

• 产品编号：N031095

• 英文名：N-Nitroso Desmethyl Citalopram

• 英文别名：N-(3-(5 - 氰基 - 1-(4 - 氟苯基)-1,3 - 二氢异苯并呋喃 - 1 - 基) 丙基)-N - 甲基亚硝酰胺

• CAS 号：无

• 分子式：C₁₉H₁₈FN₃O₂

• 分子量：339.36

• 优势

• 作为去甲基西酞普兰（Desmethyl Citalopram）的亚硝基杂质，该化合物具备以下优势：

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• 结构明确且官能团特征显著：含异苯并呋喃环、5 - 氰基、1-(4 - 氟苯基)、3-(N - 甲基亚硝酰胺基) 丙基，与去甲基西酞普兰的差异在于氨基被亚硝基化（西酞普兰为选择性 5 - 羟色胺再摄取抑制剂）。亚硝酰胺基（-N-NO）的强极性、氟原子的电负性与多环结构的疏水性形成显著理化差异，可通过反相 HPLC、离子对色谱等技术精准区分，为杂质检测提供特异性标志物；

• 稳定性与溯源性强：异苯并呋喃环的刚性结构、氰基及亚硝酰胺基的化学稳定性使其在避光、低温条件下稳定性较高，且作为去甲基西酞普兰储存或合成中胺基亚硝化产生的衍生物，能直接反映氨基稳定性及储存环境（如亚硝酸暴露）的影响，提升杂质溯源的准确性；

• 检测灵敏度高：多环共轭体系的紫外强吸收（230-270nm）与亚硝酰胺基、氟原子的质谱响应（m/z 340 [M+H]⁺）结合，可通过 LC-MS 实现痕量分析（检测限达 ppb 级），适配 SSRI 类药物的亚硝基杂质检测体系。

• 应用

• 药物质量控制：在西酞普兰原料药及制剂生产中，作为杂质对照品鉴别和定量 N-Nitroso Desmethyl Citalopram，评估亚硝基杂质的残留水平，确保符合药品质量标准中对潜在遗传毒性杂质的控制要求；

• 稳定性研究：通过监测该杂质的含量变化，评估西酞普兰及去甲基西酞普兰在不同储存条件（如 pH、光照、湿度）下的降解趋势，避免亚硝化反应加剧，保障药品有效期内的质量；

• 合成工艺评估：用于评估西酞普兰合成中去甲基中间体的纯度，减少胺基与亚硝酸的接触机会，从源头控制亚硝基杂质的生成风险。

• 背景描述

• 去甲基西酞普兰是西酞普兰的主要代谢产物，结构中含 N - 甲基氨基，在生产或储存过程中若接触亚硝酸（如环境中的硝酸盐还原产物），可能发生胺基亚硝化反应，生成含 N - 甲基亚硝酰胺基的衍生物，即 N-Nitroso Desmethyl Citalopram。亚硝基杂质因潜在遗传毒性，被列为需严格控制的特定杂质，其残留可能影响西酞普兰的用药安全性，因此对其检测和控制是质量保障的关键环节。

• 研究现状

• 当前研究聚焦于：

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• 检测方法优化：开发超高效液相色谱 - 串联质谱（UPLC-MS/MS）方法，采用 C18 色谱柱与梯度洗脱（乙腈 - 0.1% 甲酸水体系），实现该杂质与西酞普兰、去甲基西酞普兰及其他亚硝基类似物的基线分离，检测限低至 0.01 ppb；

• 亚硝化机制解析：通过模拟不同亚硝酸浓度、反应温度及 pH，研究该杂质的生成动力学，阐明 N - 甲基氨基向亚硝酰胺基转化的反应路径；

• 控制策略研究：探索添加亚硝化抑制剂（如抗坏血酸）抑制杂质生成，将其含量控制在安全限度（通常 < 0.001%）以下；

• 毒性评估：通过体外遗传毒性试验（如 Ames 试验）验证该杂质的潜在致突变性，为限度标准制定提供毒理学依据。

联系方式：杜经理 TEL: 17320513646(微信同号)    QQ: 2853567688

备注：我们也可以定制相关类似物和修饰肽，提供包括高效液相色谱（HPLC）、质谱（MS）、核磁共振氢谱（1H-NMR）、质谱（MS）、高效液相色谱（HPLC）、红外光谱（IR）、紫外光谱（UV）、分析报告（COA）、物质安全数据表（MSDS）等资料。本产品仅用于实验室用途！