四聚乙二醇单辛醚（Tetraethyleneglycol monooctyl ether，C8E4）是一种非离子型表面活性剂，其分子结构中含有八碳烷基链和四聚乙二醇醚链，兼具亲油性和亲水性，在胶体与界面科学领域常用于泡沫稳定性、表面力调控等研究。
四聚乙二醇单辛醚
表面活性剂特性
临界胶束浓度
四聚乙二醇单辛醚的表面张力随浓度变化符合Langmuir-Szyszkowski方程，其表面吸附行为可通过最大吸附密度（Γ= 3.0 μmol/L）和平衡吸附常数（α= 3.5×104 M-1）描述。在低浓度时，其表面张力无显著最小值，直至达到临界胶束浓度（CMC）。在无电解质条件下，四聚乙二醇单辛醚的CMC为7.1—9.9×10-3 M-1，而在5×10-5 M NaCl存在下测得的CMC为7.5 ×10-3 M，与文献值一致。
泡沫膜厚度与表面力
在5×10-5 M NaCl背景电解质中，泡沫膜的恒定厚度（H）随四聚乙二醇单辛醚浓度呈现先增加后减少再增加的S型曲线。H随浓度升高而增加，可能与表面活性剂吸附降低气泡疏水性、削弱疏水作用力有关。在中浓度区（5×10-6 M~7.5×10-5 M），H随浓度升高而减少，暗示存在额外的非DLVO吸引力（如溶解气体诱导的作用力）。而在高浓度区（7.5×10-5 M），H再次增加，与表面张力降低导致的毛细压力减小相关。DLVO理论仅考虑静电双层排斥和范德华吸引力，预测H随浓度单调增加，但实验结果显示显著的波动，表明需引入非DLVO力（如疏水作用、溶解气体的影响）来解释。
电解质与表面电荷的影响
在四聚乙二醇单辛醚溶液中，电解质浓度（NaCl）对离子强度影响较小，除非浓度超过10-3 M时可能引入表面活性剂杂质的离子贡献。低电解质浓度下，静电双层排斥力主导，但无法解释实验中观察到的厚度波动。溶液中气泡的ζ电位在10-6 M~10-2 M浓度范围内保持恒定（约-57 mV），表明表面电荷密度不受表面活性剂浓度显著影响。中高浓度下，四聚乙二醇单辛醚的疏水链可能促进气体（如N2在泡沫膜中的溶解和聚集，形成额外吸引力，导致膜厚度减小。例如，在接近CMC时10-3，溶解气体的增溶作用可能增强水结构的有序性，进一步放大吸引力。空气-水界面的疏水性较强，疏水作用力促使泡沫膜变薄；随表面活性剂吸附增加，界面疏水性降低，疏水作用力减弱，膜厚度增加。
与其他表面活性剂的对比
与十碳链类似物C10E4相比，四聚乙二醇单辛醚的疏水链较短，临界胶束浓度更高，泡沫膜厚度在相同浓度下略大，与疏水作用强度差异有关。与离子型表面活性剂不同，它的表面电荷密度低，静电作用较弱，其泡沫稳定性更依赖疏水作用和空间位阻效应[1]。
参考文献
[1]Qu X ,Wang L ,Karakashev I S , et al.Anomalous thickness variation of the foam films stabilized by weak non-ionic surfactants[J].Journal of Colloid And Interface Science,2009,337(2):538-547.